過去3年，超大面積硅漂移檢測儀器CMI200測厚儀系列系列在市場一直占有主導(dǎo)地位。日前牛津儀器發(fā)布了該系列的新一代產(chǎn)品，新產(chǎn)品具備更為卓越的分析性能，分辨率可達(dá)0.1μm。 
     牛津儀器一直致力于科技創(chuàng)新，運(yùn)用較新科技成果提供世界一流產(chǎn)品。這一優(yōu)良傳統(tǒng)不斷促進(jìn)硅漂移檢測技術(shù)的發(fā)展。CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品的問世，意味著該技術(shù)取得前所未有的突破與發(fā)展。

     CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品性能升級(jí)，是檢測面積、速度和分辨率的更佳組合。該產(chǎn)品具有在指定掃描時(shí)間內(nèi)自動(dòng)平均讀數(shù)，且仍能保持高計(jì)數(shù)率、快速成像、以及優(yōu)異的檢測分析性能。
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